Uvod u skenirajući elektronski mikroskop
Skenirajući elektronski mikroskop (skenirajući elektronski mikroskop, SEM) je precizni instrument velikih razmjera koji se koristi za mikro-topografsku analizu visoke rezolucije. Karakteristike su velike dubinske oštrine, visoke rezolucije, intuitivnog snimanja, snažnog trodimenzionalnog osjećaja, širokog raspona povećanja, a uzorak koji se ispituje može se okretati i naginjati u trodimenzionalnom prostoru.